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製品の詳細
製品の紹介
752、754、756PC製品は紫外線、可視スペクトル領域内の物質の含有量の定量分析に適用し、工場、学校、冶金、農業、食品、生物化学、環境保護、石油化学工業、医療衛生などの単位の基礎実験室に広く応用できる。
機能
自動波長、キーボード入力、波長設定、変換が高速になります。
1次ゼロクロス、濃度直読試験(752)
最大構築可能12個の標本点の標準曲線、標本曲線の適合度、保存可能50ストライプのパラメータ、保存可能200バーテストレコード。
システムクロック管理、ランプソース管理、USBデータ・インタフェース。
暗電流補正、波長補正、ランプ切り替え波長設定。
UV-Solution各種テスト、スキャン機能を備えたワークステーションソフトウェア(756PC)
モデル752
帯域幅4 nm
波長範囲200〜1000 nm（ステップ間隔0.1 nm）
波長精度±2.0 nm（電源投入時の自動較正）
波長反復性1 nm
測定範囲T：−1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999
透過比精度±0.5%T
透過比繰返し性±0.2%T
迷光≦0.5%T（220 nm、340 nm）
安定性/ベースラインドリフト±0.003 A/h
ディスプレイ128×64大画面液晶表示
外形寸法：456*375*220（mm）
汎用技術パラメータ
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モデル |
752 200-1000nm 4nm |
754 190-1100nm 4nm |
756PC 190-1100nm 2nm |
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帯域幅 |
4nm |
4nm |
2nm |
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波長範囲 |
200～1000nm(ステップ間隔0.1nm) |
190～1100nm(ステップ間隔0.1nm) |
190～1100nm(ステップ間隔0.1nm) |
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波長精度 |
±2.0nm(ブートオートキャリブレーション) |
±1.0nm(ブートオートキャリブレーション) |
±1.0nm(ブートオートキャリブレーション) |
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波長反復性 |
1nm |
0.5nm |
0.5nm |
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測定範囲 |
T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 |
T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 |
T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 |
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迷光 |
≤0.5%T(にある220nm、340nm場所) |
≤0.3%T(にある220nm、340nm場所) |
≤0.15%T(220nm、340nm場所) |
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あんていせい/ベースラインドリフト |
± |
± |
± |
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ベースライン直線性
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なし |
なし |
± |
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